平流式流動(dòng)電位測(cè)試系統(tǒng)的研制
| 論文類型 | 其他 | 發(fā)表日期 | 2006-10-01 |
| 來源 | 分析化學(xué)( FENXIHUAXUE)儀器裝置與實(shí)驗(yàn)技術(shù) | ||
| 作者 | 汪錳,吳禮光,鄭幸存,莫?jiǎng)π?高從堦 | ||
| 關(guān)鍵詞 | 平流式流動(dòng)電位 ζ(Zeta)電位 荷電膜 膜表面電導(dǎo) 膜體電導(dǎo) | ||
| 摘要 | 分離膜表面的荷電化顯著地影響著膜的分離性能和耐污染能力。因此, 定量化表征膜表面電性能具有重要的理論價(jià)值和實(shí)際意義。作者在前期透過式膜流動(dòng)電位測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)工作的基礎(chǔ)上成功地研制了平流式流動(dòng)電位測(cè)試系統(tǒng), 并且首次將恒電流法測(cè)膜體電導(dǎo)引入膜表面ζ(Zeta)電位的確定過程中。以自制不同共混比的合金荷電膜為測(cè)試對(duì)象,利用該測(cè)試系統(tǒng)和經(jīng)典的Helmholtz2Smoluchowski (H2S)方程及其變體得到了不同pH下的膜表面Zeta電位,從而揭示了膜表面電導(dǎo)、膜體電導(dǎo)對(duì)膜表面Zeta電位的 | ||
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