平流式流動電位測試系統的研制
| 論文類型 | 其他 | 發表日期 | 2006-10-01 |
| 來源 | 分析化學( FENXIHUAXUE)儀器裝置與實驗技術 | ||
| 作者 | 汪錳,吳禮光,鄭幸存,莫劍雄,高從堦 | ||
| 關鍵詞 | 平流式流動電位 ζ(Zeta)電位 荷電膜 膜表面電導 膜體電導 | ||
| 摘要 | 分離膜表面的荷電化顯著地影響著膜的分離性能和耐污染能力。因此, 定量化表征膜表面電性能具有重要的理論價值和實際意義。作者在前期透過式膜流動電位測試系統研發工作的基礎上成功地研制了平流式流動電位測試系統, 并且首次將恒電流法測膜體電導引入膜表面ζ(Zeta)電位的確定過程中。以自制不同共混比的合金荷電膜為測試對象,利用該測試系統和經典的Helmholtz2Smoluchowski (H2S)方程及其變體得到了不同pH下的膜表面Zeta電位,從而揭示了膜表面電導、膜體電導對膜表面Zeta電位的 | ||
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